MITUTOYO Measuring Microscopes MF/MF-U

การวัดขนาดความแม่นยำสูงและการสังเกตการณ์พื้นผิวขั้นสูงของชิ้นส่วนขนาดเล็ก (Micro components) โดยใช้ระบบกล้องไมโครสโคปสำหรับงานวัดอเนกประสงค์ (Universal measuring microscope system)

การผสมผสานระหว่างเทคโนโลยีกล้องไมโครสโคปสำหรับงานวัด (Measuring microscope) และกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา (Metallurgical microscope) ซึ่งช่วยให้สามารถวัดขนาดได้อย่างแม่นยำและสังเกตการณ์ด้วยความละเอียดสูงไปพร้อมกัน

MF-A1010D: 100 × 100 มม. MF-A2010D: 200 × 100 มม. MF-A2017D: 200 × 170 มม.

X/Y axis accuracy: (2.2 + 0.02L) µm, compliant with JIS B 7153 measuring microscope inspection method.

ขอบเขตการสังเกตภาพกว้างสูงสุดถึง Ø24 มม. (เมื่อใช้เลนส์วัตถุกำลังขยาย 1X) ร่วมกับเลนส์ใกล้ตาขนาด WF10X

ระบบออปติกแบบเทเลเซนทริก (Telecentric) เพื่อลดความคลาดเคลื่อนของกำลังขยาย, เลนส์วัตถุที่มีระยะห่างจากชิ้นงานสูงพิเศษ (Ultra-long working distance), การเคลื่อนที่ของสเตจแบบปรับด้วยมือพร้อมกลไกการปลดล็อกอย่างรวดเร็ว (Quick-release), พอร์ตเชื่อมต่อกล้องสำหรับการถ่ายภาพดิจิทัล และรองรับความสามารถในการวัดด้วยระบบภาพเสริม (Optional vision measurement)

รองรับการใช้งานร่วมกับเครื่องนับดิจิทัล (Digital counters) และหน่วยแสดงภาพเสริม (Optional Vision Unit) เพื่อการวัดและการตรวจสอบด้วยระบบภาพ (Image-based)